二手 J.A. WOOLLAM VASE #293624629 待售

J.A. WOOLLAM VASE是由椭圆偏振学行业领先的Woollam公司设计制造的。获得专利的VASE是一种精密光学工具，设计用于测量各种基板上薄膜的厚度和光学常数。J.A. WOOLLAM VASE的入射角范围为4至70度,精度为0.2度,其测量精度无与伦比。其独特的设计包括一个可移动的带有空气轴承的下部单元和允许测量多层薄膜的薄膜样品安装架，只有一个设置。光学头包括一个特别设计的光学包络，以减少空气反射误差，最大限度地减少入射光和散射光之间的光路变化，以提高精度。设备随附的软件提供直观的功能，能够进行完整的特征分析和快速的数据收集。VASE在薄膜厚度和光学特性测量方面提供了无与伦比的精度。其先进的软件允许进行全面的分析和快速的数据收集，使研究人员能够对薄膜样品进行快速的一致性测试。该系统采用4到70度的低真空入射角，可调节，精度为0.2度。这使用户能够高精度地测量薄膜。改进的光学包络还可以减少空气反射误差,并最大程度地减少光路偏差,从而获得更准确的结果。J.A. WOOLLAM VASE内置的先进探测系统进一步帮助了该装置。其中包括Peltier温度控制器、Autophobic Flatten补偿软件和自动调制补偿功能。利用这些系统，用户可以快速准确地测量不同光学常数的薄膜和微粗糙度的薄膜。这保证了精确精确的测量和改进的薄膜特性,尤其是与机器的高级软件配合使用时。VASE是一种用途广泛且先进的椭圆偏光计,在薄膜测量中提供前所未有的精度。它对材料科学、光伏、电子和半导体市场的研究人员和科学家特别有益，也对波长相关光学材料的测定有用。这种创新的工具可以用来测量薄膜的厚度和各种基板的光学常数，具有简单无与伦比的准确性和可重复性。