二手 J.A. WOOLLAM VASE #9224810 待售
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ID: 9224810
Ellipsometer
Spectral range: Up to 193 to 3200 nm
Reflection
Transmission ellipsometry
Flexible measurement capability:
Variable wavelength
Angle of incidence.
J.A. WOOLLAM VASE是一种椭圆偏光计,用于测量材料的光学特性。该设备为用户提供精确的光学信息,如薄膜厚度、折射率和薄膜消光系数以及底层材料的光学特性。VASE是测定平坦光学表面薄膜性能的理想选择。它可以用于从硅片到金属、玻璃、塑料和涂料的应用。Woollam J.A. WOOLLAM VASE由工业级光谱椭圆仪、准直光学、激光二极管光源、电子、计算机化用户界面和旋转级组成。该装置能够通过使用不同的检测模式进行各种椭圆偏振和反射偏振测量。它包括单波长、多波长、多角度和温度相关的测量。激光二极管光源用于照射要测量的样品,并由准直光学器件引导到偏振光束器。光束分离器将光分成两个正交偏振分量,然后发送到两个独立的检测器臂。检测器测量反射光的偏振,使用旋转级以增量旋转样品来执行测量。两个探测器收集的数据用于计算材料的复杂反射率和透射率。然后通过计算机化的用户界面处理这些数据,以确定样品材料的折射率、厚度和光学常数。结果以数字和图形格式显示在界面上,并提供诊断信息以供进一步分析。VASE是材料光学分析的绝佳设备,具有广泛的测量模式和精度。该装置非常适合薄膜表征、沉积和腐蚀研究等应用。它也可用于表面粗糙度、附着力和光散射测量等其他应用。
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