二手 PHILLIPS SD-3400 #9221001 待售

PHILLIPS SD-3400椭圆仪是一种自动化的单样光谱仪，设计用于测量薄膜层的光学特性，如厚度、折射率和其他光学参数。SD-3400 Ellipsometer具有高度自动化的操作，具有用户直观的图形界面，允许用户快速输入参数，测量不同角度和波长的多个样本，同时生成多达4条曲线。该仪器利用顺序偏振光源和探测器精确测量样品散射光的角度和强度。它还有一个集成的CCD相机，可以用于图像捕捉和显示。检测器模块位于测量室中，以提供高精度。PHILLIPS SD-3400椭圆仪还可用于广泛的研究和工业应用，包括薄膜沉积和表征、保护性涂层、光伏电池性能测试、解剖层沉积表征、半导体晶片器件表征和光学元件分析。它能够测量厚度、光学常数（折射率、吸收系数、消光系数、吸收截面等）、绝对层厚度的测定、纳米结构的光学性质以及椭圆偏振参数。该系统采用双光束配置,具有入射和散射光束的特点。这种设计提高了光学器件的精度和准确性，特别是与内置旋转分析仪结合使用时。SD-3400椭圆偏光计还可以与各种激光源集成在一起，大大扩展了其应用范围。它还有一个闭环温度控制系统，这是研究样品的温度相关光学特性所必需的。PHILLIPS SD-3400椭圆仪是有机和无机薄膜材料表征的有效工具。该仪器具有易于使用的图形界面，能够快速测量和分析样品的光学特性，成为业界首选。它非常适合光学元件、保护涂层、光伏电池和半导体的研究和表征。