二手 PLASMOS SD 2000 #9010339 待售
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ID: 9010339
晶圆大小: 8"
优质的: 1994
Thin film thickness measurement system / automatic ellipsometer, 8"
Illumination source type: HeNe laser
Scanning stage: yes
CPU: Vero EMV0PCIP21 8S
Controller type: PC/VME
Software Rev.: 6.28F
External cooling: air cooled
Autofocus system: Electrophysics AF-759 microscope
Objective: Leitz Plan 10x/.2
CCD camera: Teli CS-8310b
(2) PMS ports
(1) PPZ2 port
(1) PTV portPower: 230V, 50/60Hz
1994 vintage.
PLASMOS SD 2000是一种自动化的计算机控制椭圆偏光计,用于测量薄膜材料。它是一种先进的光学仪器,利用光来测量薄膜和薄膜元件的光学性质。椭圆偏振仪利用偏振光测量样品的光学特性。光线投射到样品上,部分光线从样品表面反射出来。分析反射光,测量光的偏振状态。由此可以得到材料厚度、光学常数以及样品其他光学性质的信息。SD 2000具有350-1700纳米的宽广的工作范围,最大分辨率为0.01度,因此适用于精度非常高的薄膜材料。椭圆偏振仪在薄膜厚度上的可变性范围为0.2至10纳米,堆积密度为10%,对于研究非常薄的层很有用。PLASMOS SD 2000还提供高级编程功能,如调整样品角度和样品极化。软件包括范围广泛的标准薄膜模型,可以选择这些模型来计算样品的光学特性。设备的整个操作是自动化的,由PC电脑控制,这使得操作员在执行测量时具有很大的灵活性。用户可以控制偏振角、功率、波长等多种参数。SD 2000非常适合在各种应用中测试薄膜材料的横向均匀性、光学常数、吸收、延迟和厚度,例如光学涂层、透明导体、表层、光学等。由于其先进的特性和功能,PLASMOS SD 2000为执行可靠的测量提供了极大的便利和准确性。
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