二手 RUDOLPH / AUGUST S300 #9355325 待售

RUDOLPH/AUGUST S300 Ellipsometer是一种高度精确的设备,用于薄膜涂层和材料分析。它测量通过材料或涂层时光偏振的变化，在确定薄膜厚度和光学常数方面非常精确。AUGUST S300椭圆仪是先进的电光Trouton反射椭圆仪和AUGUST NanoSpectrometer™的组合。这种组合提供了从0.02 nm到1 µm的单个超薄层的出色性能和特性。其内置波长范围为190-930nm。椭圆偏光计具有计算机控制的操作、例行依赖测量的手动操作以及显示系统状态和最后测量结果、入射角、薄膜层厚度和质量因素的"基本"标记。RUDOLPH S300 Ellipsometer还包括一个特殊的校准功能，使用户能够准确校准样品漂移和光源漂移的影响。由于使用了两轴旋转级,校准只需一分钟即可完成,从而最大程度地减少了潜在的对准误差。S300椭圆仪被用于研究实验室，以研究薄膜和光学的特性，以及在新材料的开发。它已被用于单层和多层涂层的化学和物理分析、透明和半透明介质的研究、金属、氧化物、有机聚合物和无机材料等不同材料的薄膜表征等领域。RUDOLPH/AUGUST S300椭圆偏光计的设计不能敏感于外部影响,如振动、温度和环境尘埃。此外，它不需要像其他椭圆偏光计那样使用危险液体。AUGUST S300椭圆仪是需要高精度计量的研究实验室在薄膜涂层研究中的绝佳选择。它的精确度和准确性，加上有效的校准，使得它成为任何需要精确数据的实验室的绝佳选择。