二手 RUDOLPH AUTO EL II #293609047 待售

RUDOLPH AUTO EL II是RUDOLPH Technologies, Inc.的自动椭圆偏光计，可以测量薄膜厚度、光学常数和薄膜应力。该设备基于偏振光椭圆偏振（PLE）原理。它是一种无损光学技术，可以在半导体、金属、玻璃和聚合物等多样的基板上测量非常薄的薄膜，厚度在10到1000 nm之间。AUTO EL II利用偏振光源和旋转偏振器产生一束最初呈线性偏振的光束。然后,光线从样品表面反射或通过样品表面传输,并由检测器进行检测。探测器测量光束反射或通过样品表面后的偏振状态和强度。将反射光束的强度和偏振状态与入射光束的强度和偏振状态进行比较，推导出椭圆偏振参数ψ和δ。与入射光相比，样品表面上存在薄膜会影响反射光的强度和偏振状态。此信息可用于计算样品的折射率、厚度和光学常数。RUDOLPH AUTO EL II优于其他椭圆偏振测量设备的优点包括由于频率更高的LED光源而提高了精度，由于自动化的偏振仪和易于操作的创新用户界面而使测量时间更快。椭圆表与基于RUDOLPH Windows的交互式软件兼容,该软件可实现数据记录、绘图、导出和存储。这一设备在半导体、光电、纳米技术、生命科学、光学计量和研究实验室等多个行业广泛用于工业、学术和研究用途。它也被用于薄膜、涂层和光学元件的生产和制造。总体而言，AUTO EL II是一种先进的椭圆偏光计，在各种应用中提供可靠和准确的光学材料表征。利用高精度性能，最大限度地提高了测量速度和精度。简而言之，它是薄膜表征的解决方桉。