二手 RUDOLPH EL III #9131119 待售

RUDOLPH EL III是用于光学薄膜测量的最先进的椭圆偏光计。用于光学薄膜层的测量和分析，如在生产先进半导体器件、光学显示器和其他光电元件时发现的。椭圆偏振法利用精密光源和光电探测器测量光与薄膜相互作用后偏振的变化。EL III将高端偏振反射仪的先进测量能力与椭圆偏振仪强大的控制和分析软件相结合，为研究人员和工程师提供无与伦比的精度和精确度。RUDOLPH EL III具有先进的自动化测量系统，可以精确调整源光的波长和偏振角，以实现薄膜的最佳采样。这个功能强大的系统还提供了一个校准模块，以有效地消除仪器漂移并确保各种样品的准确性。EL III还提供一系列环境扫描功能,包括温度和湿度控制,使其非常适合独立测量。除了出色的测量能力外，RUDOLPH EL III还提供多种强大的分析选项。其最新的Windows兼容软件通过对收集到的数据应用一系列复杂算法来解释样本数据，从而生成多种有用参数，如光学常数、折射率、吸收系数和薄膜厚度等。此外,数据可以直接以文本或图形格式输出,以便与椭圆偏振标准委员会（ESC）标准进行比较。最后，EL III的设计考虑了用户，使得薄膜测量尽可能的容易。直观的图形用户界面使RUDOLPH EL III的设置和操作成为轻而易举，而一系列有用的向导和教程确保即使是新用户也能快速了解仪器的操作。EL III还附带了一系列有用的配件，如半自动样品级和参考样品架，使光学薄膜测量和分析更加轻松和成功。