二手 RUDOLPH FE III #9165605 待售

RUDOLPH FE III
製造商
RUDOLPH
模型
FE III
ID: 9165605
晶圆大小: 6"
优质的: 1994
Wafer thickness measurement system, 6" 1994 vintage.
RUDOLPH FE III是最先进、用途最广泛的椭圆偏光计之一。本装置的测量是用光谱椭圆偏振法或可变角度光谱椭圆偏振法(VASE)完成的。RUDOLPH FEIII提供了快速、简便的自动光谱椭圆偏振,并且在编程扫描参数方面具有充分的灵活性。它测量在中红外,近红外和可见范围的光。该装置适用于监测薄膜涂层和控制材料的化学成分。该装置内置厚度、光学和化学成分计算器。强大的摆臂设计包括电气臂上的样品和检测器,该检测器跨越狭窄的接收角度摆动。FE-III是一种热电冷却探测器,提供超过1000个单位的动态范围。FE III在诸如角度覆盖范围、角度分辨率、波长范围、基线以及诸如厚度、折射率和/或消光系数等样品特性等扫描参数方面提供了充分的灵活性。该装置可以在不同的波长、角度和偏振态下作为入射光强度的函数进行测量。FEIII被设计成以不同的实验室配置运行。它可以与各种应用和其他设备连接。这允许椭圆偏振仪与其他仪器集成操作进行高级实验。它也可以通过互联网从世界任何地方远程操作。RUDOLPH FE-III具有长期的数据存储容量,与各种软件程序兼容。这些程序允许用户导出数据以立即进行分析和优化。数据管理系统可以定制,以满足用户的特定需求。RUDOLPH FE III的高性能测量归功于其尖端的光学系统和优异的光源。它配备了优化的焦距镜头和高稳定性、宽波长范围的出色光源。RUDOLPH FEIII是一种可靠且易于使用的椭圆仪,可用于对多种材料进行高精度和精确的测量。它为过程控制以及研究应用提供可靠的数据。此外,它还得到制造商的全面保修和客户服务的支持,确保了长期的满意度。
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