二手 RUDOLPH FE III #9165607 待售

RUDOLPH FE III
製造商
RUDOLPH
模型
FE III
ID: 9165607
晶圆大小: 6"
优质的: 2007
Wafer thickness measurement system, 6" 2007 vintage.
RUDOLPH FE III是一种研究级光谱椭圆仪,旨在以极高的精度测量材料的光学特性。该工具被用于广泛的实验,包括反射和透射涂层测量、半导体器件结构、光学材料表征等等。RUDOLPH FEIII装有Peltier冷却CCD成像照相机,并使用Ellipsometry原理来提供反冲、漂移和滞后可忽略的表面光学特性的测量。FE-III也提供了优越的动态范围和精确度比同级别的其他椭圆偏光计。FE III具有256通道波长范围(200-1200nm),分辨率高达5nm,允许用户精确测量材料的光学特性。该系统设有用于样品定位的计算机化样本表和用于对准测量的电动偏振仪。RUDOLPH FE-III具有其集成的移动软件包,允许用户将椭圆偏光计连接到PC或网络就绪PC。FEIII的偏振仪测量范围很广,可达+/-180°,多个样品位置的测量范围也很大。该系统还包括一个允许外部自动控制参数和高级测量的软件组件。这也允许交叉偏振、发散补偿、光弹性和多角度测量。RUDOLPH FE III是一种高度精确可靠的工具。闭环校准确保整个测量过程的准确性和稳定性,允许精确和可重现的测量。该系统还具有出色的稳定性和较低的噪声水平,允许用户测量光学特性变化最小的情况。RUDOLPH FEIII是光学材料表征的优越仪器,结合了标准椭圆仪的人体工程学特征和先进椭圆仪的技术精密。其卓越的性能、用户友好的功能和先进的软件功能使其成为用于光学表征和研究的可靠而强大的工具。
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