二手 RUDOLPH FE IIID #293604305 待售
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RUDOLPH FE IIID椭圆偏振仪是一种高度先进的光学计量装置，利用偏振和椭圆偏振的原理来测量表面的光学性质。它测量薄膜的厚度和表面参数，并就各种基板上薄膜的物理特性提供反馈。RUDOLPH FE-IIID椭圆偏光计设计具有多种特性和功能，是要求苛刻的光学测量的理想选择。FE III D Ellipsometer使用固定和可变角度的几何形状，提供精确的测量和薄膜特性的可靠表征。这种最先进的技术允许在线和实验室测量,从而无需手动更改入射角。它的可变角度范围为30-85°，可以测量同一样品上具有可变入射角的薄膜。此外，FE IIID椭圆偏振仪拥有高度灵敏的极化探测器。这种独特的特征允许获取角度相关的椭圆偏振参数（即振幅、相位）。该探测器还具有较高的波长分辨率和检测精度，非常适合薄膜和表面性能的测量。FE-IIID Ellipsometer附带了SEAR软件,可提供简单的用户体验。SEAR是一个用户友好的界面，包括了一整套的分析功能，如层建模（在基板顶部对薄膜进行建模）、堆栈建模（对复杂的薄膜堆栈进行建模）以及对测量参数进行图形绘制。该软件是一个直观的平台,允许轻松进行测量设置,并提供全面的数据分析功能。RUDOLPH FE III D椭圆偏振仪还具有为高级椭圆偏振应用设计的几种硬件功能。它配备了一个遥控电机，便于补偿高速液晶（HSLC）探测器的旋转。这使得角度相关测量提供有关样本角度相关的信息成为可能。此外，该装置还配备了机械化样品台，方便样品定位。它还带有简化的样本转换,以进一步加快样本更改。RUDOLPH FE III/D椭圆仪是精密光学计量的绝佳选择。其强大的特性使其成为涉及薄膜表征和光学特性测量的应用的理想设备。FE III/D椭圆偏光计具有用户友好的SEAR软件、先进的技术及其多种功能,可对薄膜和表面进行可靠、准确的测量和表征。
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