二手 RUDOLPH FE IIID #293660842 待售

RUDOLPH FE IIID是一种先进的椭圆形光谱仪，用于测量光学参数如折射率和薄膜和界面的厚度。该仪器是一个自动、易于操作、坚固的平台，允许用户测量半导体、电介质、聚合物和组合膜等多种材料。RUDOLPH FE-IIID系统结合了一个强大的1.5毫瓦HeNe激光器、精密的软件控制和反馈以及一个倒光头，可以分析无限制高度的样品。该系统由一个倒光头组成，它不仅能够无限制的高度样本，还允许椭圆偏差测量到几纳米的厚度。光头具有电动偏振器、补偿器和样品轴,允许从-90°到+90°的精确旋转调整。还提供了一种CCD探测器设计，它提供了从250 nm到950nm的快速数据采集时间和均匀的光谱响应。在632.8nm下工作的HeNe激光器稳定性强，具有良好的光束模式滤波。这种稳定性允许在各种角度上进行更精确的测量。激光还允许进行高反射测量，使其适合用于反射光谱和其他技术，如Mueller矩阵应用。FEIIID包括一个可调光源，使得它适用于薄膜表征偏振器介电常数和反射/透射光谱。光谱可以用偏振光光谱法得到，光谱可以与样品的光谱进行比较。此外,RUDOLPH FE III/D还可以测量干涉颜色、透射/反射系数以及样品的方位角和极性方差。直观的软件为易于使用而设计，允许用户输入样本名称、厚度和折射率等相关数据。它还提供数据分析和各种建模功能。用户可以以多种格式导出数据,以便进一步分析或与同事共享。FE III/D是一款可靠、功能强大的光谱仪，具有灵活的光头设计、可调光源、HeNe激光稳定性以及强大的软件控制功能。这使得FE IIID成为椭圆偏振仪应用程序的理想选择,这些应用程序需要高精度的数据和对各种材料的快速测量。