二手 RUDOLPH FE IIID #9139658 待售

RUDOLPH FE IIID是一种用于测量薄膜物理厚度和光学特性的椭圆偏振仪。它的工作原理是在样品上照射偏振光，然后测量产生的强度和偏振变化。所得数据可用于确定薄膜材料的厚度和光学常数（折射率和吸收系数）。RUDOLPH FE-IIID利用CCD照相机，其七个高灵敏度的滤光带范围从350到2800纳米，以精确测量和分析样品表面。通过将CCD照相机测得的角度信息与可见氦硼激光器提供的强度数据相结合，FE III D可以在相距不超过半毫米的几个点获得测量结果。FE-IIID除了是内部研究的有用工具外，还能够获得可靠的数据，用于质量控制。例如，半导体制造商为了产品控制的目的，往往需要测量薄膜的精确厚度。在测量薄膜沉积及其相关光学常数时，FE III/D生成的数据非常可靠。由于其极高的精度和耐用性，RUDOLPH FE III D成为需要快速、准确、可靠的薄膜材料测量的实验室和生产设施的频繁选择。由于其先进的数据采集和分析系统，RUDOLPH FE III/D能够向研究人员提供他们所需的确切结果。FE IIID是一种灵活、易用、可靠的薄膜样品精确测量系统。它具有很高的准确性和可重复性，是获得与薄膜材料相关的综合信息的理想工具。这些信息对于质量控制和研究是非常宝贵的。