二手 RUDOLPH FE IIID #9296247 待售

RUDOLPH FE IIID
製造商
RUDOLPH
模型
FE IIID
ID: 9296247
Wafer thickness measurement system.
RUDOLPH FE IIID是一种先进的光谱椭圆仪,设计用于测量薄膜和对材料进行自动表征。它的工作原理是椭圆偏振,其中光被用来确定材料的物理性质,最常见的是厚度和折射率。RUDOLPH FE-IIID配备了HeNe激光器,能够输送波长为633nm的光,并且可以测量范围广泛的厚度,从几纳米到几百纳米。椭圆偏光计由光学元件组成,如偏振器、光束夹板和补偿器,利用来自激光源的偏振光来精确测量薄膜或涂层的光学性质。仪器由几个部分组成,包括样本级、椭圆偏振仪头和控制部分。样品台用来固定和定位薄膜,而椭圆偏振仪头则由一系列光学器件和配件组成,精确测量薄膜特性。控制部分容纳电源和通信板,允许用户控制设置和调整仪器参数。FE III D提供了一系列强大的功能,使其能够以高精度和精确度测量元件和材料。它具有高度敏感的光学元件,以及广泛的测量范围,可实现材料的自动表征。仪器配备了遥控功能,允许用户在无需接触仪器的情况下调整设置和修改参数。此外,该单位可以同时测量样品的两侧,从而提供一组测量结果。使用FE-IIID进行的所有测量都被认为是非常准确和可靠的,使其成为寻找精确、可重复结果的实验室的理想选择。设备中包含功能强大的软件,可轻松进行数据分析和存储。该仪器还与大多数显微镜系统兼容,非常适合检查和表征极薄的薄膜和小结构。最后,FE III/D是一种先进的光谱椭圆偏光计,能够对薄膜和涂层进行精确可靠的测量。配备了一系列功能强大的功能、自动化的表征和遥控器,这种仪器非常适合寻找高度精确的科学测量的实验室。
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