二手 RUDOLPH FE IV #293744554 待售

椭圆偏振仪是一种光学仪器，用于测量薄膜和基板的光学特性。RUDOLPH FE IV椭圆偏光计专为测量厚度和光学常数范围广泛的薄膜和基板而设计。RUDOLPH FE-IV是RUDOLPH系列椭圆偏振仪的最新型号和最具特色的产品。这是非常准确和敏感的，因为它的专利入射角或wavenumber依赖极化控制。FE IV椭圆仪包括一个具有精确相位控制的高度精确和灵敏的相位调制椭圆仪。它兼具单波长椭圆偏振和多波长光谱椭圆偏振能力，能在紫外线到红外线的波长下测量。其专利极化控制器被设计用来测量广泛的参数值，其线性偏振器在测量中确保低噪声和失真度。FE-IV椭圆仪有能力测量从0.1 nm到几微米的薄膜，精度为0.02°。它具有高精度的角度测量装置、数字显示、光头控制和自动化的取样机构。高精度角度测量装置确保角度测量尽可能精确。数字显示模式允许对测量数据进行完整的查看，以便进行有效的分析和比较。RUDOLPH FE IV椭圆偏振仪的设计是为了以最高的精度和重现性来测量。具有低噪声比大小值测量参数的能力，非常适合工业和研究应用。此外，该仪器还能够测量晶体基板应力，其精度比其他椭圆偏差更好。RUDOLPH FE-IV椭圆仪是广泛应用的绝佳选择。曾被用于太阳能电池、平板显示器制造、生物化学和研究实验室等多个行业。它也用于鉴别光学材料和部件的降解以及薄膜腐蚀和化学成分。最后，FE IV椭圆偏振仪是一种测量薄膜和基板的有效且精确的光学仪器。具有高精度角度测量装置、数字显示、光头控制、自动化取样机构。它是一系列工业和研究用途的理想选择，可用于测量噪声比低的大小值参数。