二手 RUDOLPH FE IV #9083743 待售

RUDOLPH FE IV是一种先进的椭圆偏振仪，设计用于通过高精度的光学干涉来测量薄膜特性。椭圆偏振仪采用4波长单色照明和非接触测量方法，可精确测量金属、氧化物、聚合物薄膜和纳米材料等多种材料。此外,该设备能够测量1-1000 nm范围内的薄膜,精度为0.01°。RUDOLPH FE-IV利用低真空室减少空气湍流，确保对表面薄膜进行高度精确的测量。椭圆偏振仪的精度通过其高阶延迟测量能力得到进一步提高，从而可以对较薄的薄膜进行更精确的测量。该装置配有两个偏振激光器和一个白光源，具有在近红外、可见和紫外线区域测量高达70°的入射角，分辨率为0.001°的能力。FE IV还具有较大的样本量能力,允许它测量最多3厘米²的样本区和多种样本形,如2D和3D曲面。此外,该设备还可以收集有关涂层厚度、折射率、光学各向异性和薄膜双折射的数据,从而使用户能够分析复杂的光学表面和薄膜系统。FE-IV具有强大的软件和硬件功能,可以满足广泛的研究需求。例如，它具有跨平台兼容性的遥控器，使用户能够运行来自多个平台的测量，如PC、Mac和平板电脑。此外，椭圆仪直观易用的软件为用户提供各种数据分析和可视化工具。总体而言，RUDOLPH FE IV是一种技术先进的椭圆偏振仪，可对各种材料中的薄膜特性进行高度精确和可靠的测量。它易于使用的软件和广泛的功能使其成为各种研究应用程序的宝贵工具。