二手 RUDOLPH FE IV #9271610 待售

RUDOLPH FE IV是由RUDOLPH Technologies, Inc.它是一种强大的分析工具，旨在测量薄膜和小颗粒等材料的光学特性。该仪器配备了一系列复杂的功能，包括一个独特的大面积用于高速测量的样品室和一个定制设计的计算机控制驱动设备，能够快速扫描样品。仪器由波长范围为350至1650 nm的光学系统、采样级和高速计算机控制的驱动单元组成。一束光束，典型的是来自氙光源，被并入光学机器，并被引导到样品级，在那里它被转化成入射波和偏振反射波。然后用CCD相机检测反射波，测量偏振角。检测工具将检测到的信息转换为强度和相位图，用于计算Mueller矩阵的元素。此矩阵以2x2或4x4格式生成，取决于椭圆偏光计的模型，用于计算样品的光学参数。然后可以使用RUDOLPH EllipsWerks软件等专用软件包查看获取的数据进行分析和进一步操作。使用RUDOLPH FE-IV椭圆仪，用户可以精确测量光散射对材料的影响，如总反射率、消光系数、光吸收、折射率、涂层厚度、光学各向异性等。大取样室还可以快速测量薄膜地形和应力。此外，该仪器可用于测量金属点等不透明样品的性质，使其适合于多种行业的一系列研究应用。此外，该仪器的特点是操作简单，用户参与程度极低，使用户能够在进行最少培训的情况下快速准确地测量各种样品。FE IV椭圆仪的高精度、易用性和多种功能使其成为研究和制造环境的强大工具。