二手 RUDOLPH FE IV #9398259 待售

RUDOLPH FE IV是一种光学椭圆仪，用于精确测量薄材料的光学特性。该装置是一种4波长的仪器，可以用偏振光测定涂层光学参数。它可以测量范围很广的入射角，从10°到70°，适用于近乎正常和离面入射角的测量。RUDOLPH FE-IV利用干涉滤波器轮、多个光电探测器和线性偏振器测量精确的偏振参数。它的设计比之前的FE III椭圆偏光计模型有所改进，因为使用了四个波长的激光（633nm、515nm、488nm和478nm）从多个角度测量样品。然后使用这些测量来计算样品的光学常数。该仪器采用基于Windows的AE Win-EV软件，设计为台式，输出数据易于分析。软件具有强大的曲线拟合工具,可帮助用户从数据中提取材料常量。仪器还包括一个集成的样品板，允许样品与梁轴路径简单对齐。此外，直观的用户界面和图形显示使FE IV成为光学涂层测量的理想选择。该系统的设计也考虑到了鲁棒性，提供了简单的维护和长期的耐用性。先进的设计有助于确保在广泛的基板和极角上进行精确的测量。总体而言，FE-IV是一种用途广泛的椭圆偏光计，是为研究人员设计的，目的是寻找一个可靠和准确的系统来测量薄膜和表面的光学常数。它提供了研究一级调查所需的精确度，适合在实验室环境中使用。