二手 RUDOLPH FE VII D #9171333 待售

RUDOLPF RUDOLPH FE VII D是一种椭圆偏振仪，设计用于对薄膜厚度和折射率进行高度精确的测量。它是一种用于光学和薄膜测量的快速可靠的光学工具。它采用双光束光学干涉仪和线性偏振器来测量样品表面的椭圆偏振角。这样可以更准确地测定被观察薄膜的厚度和折射率。RUDOLPF RUDOLPH FE VIID是一种紧凑型建模椭圆偏振仪,具有极好的精度和精确度。它设计用于精确测量薄至10nm厚的薄膜，适用于光学涂层、半导体器件和MEMS等多层薄膜应用。适用于研究等级、生产或质量控制测量。RUDOLPF FE-VIID的设备由光源、线性偏振器、分束器和探测器四大部分组成。光源通常是单色HeNe激光，产生连续偏振激光。线性偏振器用于确保样品处有线性偏振光束。分束器是一个二向色镜，它将入射光束分成两个垂直分量-s和p极化部分。这两束光束从样品表面反射，由检测器检测，以测量样品的光学特性。RUDOLPF RUDOLPH FE-VIID使用微分测量技术来测量表面的光学性质。该系统测量反射光的偏振角变化，同时也可以使用反射-透射技术测量样品表面的强度。反射角信息用于确定样品的折射率和厚度。该单元生成的数据用于表征薄膜的物理特性。RUDOLPF FE VIID利用图形用户界面（GUI）使用户能够快速直观地设置、控制和分析测量值。GUI在Windows 7/8操作系统上运行,专为新手和经验丰富的用户而设计。除了GUI之外,该机器还包括各种测量、分析和集成模块,便于薄膜样品的数据采集、解释、关联和建模。RUDOLPF FE VII D是研究和工业应用的理想光学分析工具。它体积小巧，重量轻，特别适用于过程监控和质量控制应用。由于具有卓越的准确性和速度,它非常适合进行各种样品测量,使研究人员和工程师能够深入了解其样品。