二手 RUDOLPH FE VII D #9284351 待售

RUDOLPH FE VII D是一种先进的光学椭圆偏振仪，设计用于测量高精度的薄膜和层状表面的光学特性。这台仪器是一个高度灵敏的多波长光谱平台，使用圆形偏振仪测量薄膜和多层堆栈的透射和反射特性。利用圆入射偏振，这种装置还测量折射率、消光系数、薄膜厚度、表面粗糙度和层结构的光学指数。它配备了一系列功能，包括以下功能：一种可变角度入射偏振器，用于测量不同波长的薄膜和基板参数。通过光谱解析测量来确定光学常数、薄膜和基板参数以及界面粗糙度。能够测量具有高吸收层的层状薄膜和界面的复杂样品。一种高分辨率宽带光谱仪，用于测定薄膜表面的光学和结构特性。用于对样品进行目视检查的内置摄像头。用于样品表面照明的可编程LED。一种用于测量宽波长范围内薄膜厚度的扫描激光系统。用于分析和解释数据的专业软件，如强大的胶片拟合和模式识别。利用这些特性，RUDOLPH FE VIID为用户提供了对薄膜和界面的光学和结构特性的快速、精确和可靠的评估。该仪器可用于分析金属、氧化物、聚合物、半导体等多种材料。此外,它还提供了低成本、高分辨率和精确的样品光学特性。FE-VIID具有广泛的功能和性能,可以满足广泛的研究要求,并显着缩短发现和识别样品表面光学特性所需的时间。