二手 RUDOLPH FE VII #293647734 待售

RUDOLPH FE VII
製造商
RUDOLPH
模型
FE VII
ID: 293647734
晶圆大小: 8"
优质的: 2002
Thickness measurement system, 8" 2002 vintage.
RUDOLPH FE VII是一种椭圆偏光计,设计用于测量薄膜和表面的光学参数,如折射率和光学厚度。该装置是非常成功的RUDOLPH FE-VI的升级版,20多年来对大量样品进行了可靠和准确的测量。RUDOLPH FEVII具有许多独特的特点:微处理器控制的软件可确保准确的数据收集。独特的设计模式可自动补偿样品平面的倾斜度和偏心率。快速测量模式可实现更快的测量并减少所需的测量次数。波长选择可在300至800纳米范围内自由访问。高选择性模式可同时测量线性和圆形极化, 使用可选的数据收集模式可以实现自动化数据收集。获得专利的自动化多重测量模式是测量多个样本而无需进行新实验的宝贵工具, FE-VII独有的专利超范围测量模式, 允许测量光学参数超过通常用椭圆偏光计测量的范围的样品。延长的温度和压力范围可与其他设备一起使用。RUDOLPH FE-VII中记录的数据很容易转移到多种格式进行分析, 包括ASCII、ISO 16487和JIS X 0401的许多功能结合了高级软件,使得FEVII成为物理、光学力学、光学工程等领域广泛材料的通用工具。FE VII凭借其极高的精确度、精确的控制系统以及延长的温度/压力范围,可以精确测量甚至复杂结构和表面的样品,使其成为研发和样品表征的宝贵工具。
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