二手 RUDOLPH FE VII #9083744 待售

RUDOLPH FE VII是一种先进的高精度和测量可重复性椭圆形偏光计，为测量薄膜和基板厚度提供了强大的工具。这种椭圆偏振仪能够测量任何材料从1纳米到1微米的薄膜厚度，精度为0.2 nm。它被设计用来测量薄膜厚度在广泛波长范围内的光吸收和透射。这使得它非常适合分析薄膜的光学特性。RUDOLPH FEVII Ellipsometer是一种多功能模型，使用最先进的技术提供精确的薄膜测量结果。除了提供对薄膜厚度的精确测量外，还可以测量其光学性能。该仪器是一种可靠的工具，用于检查光学薄膜、光学元件和光学系统的其他元件，用于研发应用。该仪器配有直观的Windows® XP兼容软件，使用户可以轻松捕获和存储胶片数据，分析数据计算厚度，计算光吸收。FE-VII椭圆仪能够测量几个参数，包括光学膜厚度、光吸收、透射光量、偏振、反射率和散射。经过处理的实验结果可用于各种应用，如光学器件设计、材料科学、半导体器件研究等。FEVII功耗低，并包含自己的PC电源，使其成为方便的便携式设备。温度补偿功能使用户能够调整步骤分辨率和扫描速度,而不会影响读数的准确性。这种高度精确的模型还设计有一个可移动的晶片卡盘，便于加载，进一步有利于研发应用。FE VII椭圆仪是一种高度可靠但经济实惠的精密薄膜测量仪器。精度、重复性和多功能性的结合，也使其成为许多光学分析应用的首选工具。此外,易于使用的软件为数据存储、处理和分析提供了一个简单的解决方桉。凭借其先进的功能,此模型为需要精确、高效测量薄膜和光学元件的用户提供了卓越的价值。