二手 RUDOLPH FE VII #9148236 待售

RUDOLPH FE VII是一种先进的多角度自动化光谱椭圆仪，设计用于光学薄膜研发。具备先进的光学和数据采集能力，以高精度和精确度测量薄膜结构的光学特性。该装置采用可选择波长的单色仪，其UV-可见-NIR光谱覆盖范围从190纳米到1600纳米。该设备旨在模拟样品在不同入射角下的光学特性，准确表征样品的光学特性。RUDOLPH FEVII的核心是模块化自动化采样阶段,它允许一次对最多三个采样进行自动测量。坚固的样品级具有直线运动和高速扫描，可达到200纳米垂直平移范围和300纳米半径旋转范围。线性运动用于将样品定位在分辨率高达0.001度的最佳入射角范围内。采样级还允许双光偏振进行可变角度采样级扫描。椭圆偏振仪利用光束扫描元件阵列，便于样品光学特性的自动双偏振和可变角度测量。该系统包括一组可以用来精确模拟不同角度的入射光束的光源如钨气、氙气或宽带光。该单元配有光电探测器阵列，用于测量反射角并评估样品的强度、折射率和厚度。先进的光学和光电元件加上FE-VII软件，使得对样品进行精确的角度和强度扫描，模拟样品的光学特性成为可能。除了自动化功能外，RUDOLPH FE-VII还包括一系列广泛的校准和数据分析工具来分析数据。其中包括样品和基板光学特性库、温度控制机、自定义数据分析和报告工具以及测量参数数据库。用户友好的界面和广泛的技术能力使FE VII成为光学薄膜研发的理想解决方桉。