二手 RUDOLPH FE VII #9161281 待售

RUDOLPH FE VII是来自RUDOLPH Technologies, Inc.的一种精密精确的椭圆偏光计，用于测量薄膜和表面的电子和光学特性。其七（7）种不同的构型可以测量广泛的参数，如薄膜的厚度、折射率、消光系数、表面粗糙度、电阻率、带隙和光学常数等。该仪器包括一个可调节的样品臂、一个高度灵敏的探测器，以及一个波长范围在200至800nm的固态激光二极管。RUDOLPH FEVII使用带有测角仪的光学系统来测量样品的光学特性。测角仪将光束从样品旋转到位于90度的两个探测器，从而能够精确准确地确定样品的光学参数。可以在系统中增加一个额外的偏振附件，用于测量基于偏振的光学参数。该仪器采用各种测量方法进行预编程，非常适合一系列材料表征任务。它提供了一个直观、用户友好的界面和一个单独的数据控制窗口，允许易于使用和平稳操作。该仪器还配备了功能强大但灵活的数据处理和分析软件，使用户能够快速处理数据、发现问题和趋势并生成报告。FE-VII能够测量厚度为0.2 nm至1,000 nm和折射率值高达4.0的薄膜。该仪器还可以配置一个驻波附件，以测量一系列高达6,000nm的薄膜厚度，以及广泛的其他光学参数，如电阻率、带隙能量、介电常数、光学常数、表面粗糙度以及折射率和消光系数。总体而言,FEVII是一种先进、健壮且用途广泛的椭圆仪,非常适合一系列材料表征过程。它预编程的功能使其易于用于要求最苛刻的技术应用，而其强大的软件则让用户能够快速处理和分析数据。这使得它成为研究人员和材料科学家的理想选择。