二手 RUDOLPH FE VII #9236829 待售

RUDOLPH FE VII是一种用于测量薄膜光学性能的快速、精确的工具。它是一种自动化的多波长椭圆偏光计，用于测量薄膜或多层的复杂光学特性。基于椭圆偏振原理，RUDOLPH FEVII使用偏振光来测量反射出样品表面后光偏振的变化。通过这种方法可以测量气层厚度、薄膜厚度、折射率和消光系数等光学特性。FE-VII还允许从190nm到1050nm的多波长测量。该仪器易于使用，可对各种样本量进行快速、准确和可重复的测量。它在质量控制应用中具有较高的重复率,或者在更精确的测量中具有较低的重复率。FE VII还提供了多种进一步简化操作的软件包。RUDOLPH FE-VII由以下主要组件组成：光源、检测设备、可变入射角光学器件和计算机控制系统。光源是带有G线滤光片的150W氙气flasha灯，用于在广泛的波长范围内进行稳定和可重复的测量。这个光源可以让研究人员在很短的时间内，在很宽的波长范围内测量多个样本。检测单元由CCD摄像机探测器和滤波器轮组成。相机记录分析的数据，而滤波器轮则允许选择光的波长。可变入射角光学器件的设计目的是减少由于光线反射出其它表面或离轴角度而产生的错误读数的影响。两个主要组件是电动线性级和光学检测器。线性级允许调整样品旋转角度。光学探测器感应反射光的偏振，调整入射角，使光均匀反射出样品表面。计算机控制机提供了操作FEVII的接口，还包括各种软件包，协助用户进行数据处理、报告和分析。RUDOLPH FE VII是一种先进、通用的薄膜性能测量工具。它为各种样本量提供了快速、准确和可重复的结果，是薄膜光学性能研究的理想选择。