二手 RUDOLPH FE VII #9306017 待售

RUDOLPH FE VII是由RUDOLPH Technologies Inc.它支持从纳米到微米水平的广泛测量，可用于测量包括金属、聚合物、复合材料和半导体在内的多种材料。该仪器采用了专利、无干扰、基于成像的偏振测量技术，使用户能够在几分钟内获得高精度和可重复的结果。先进的基于成像的偏振调制技术消除了对传统光学元件如半波板和补偿器板的需求，允许使用更高效、更紧凑的光学配置。RUDOLPH FEVII支持两种仪器，一种是Observer，另一种是Profiler。Observer模型用于分析薄膜，能够产生高达4纳米厚度的精确结果。Profiler模型用于皮肤分析,可以测量油漆、涂层和其他材料的表面特征,使精度更精确。该系统使用基于Windows的界面在高度自动化的设置下运行,无需手动干预。它包含数据采集和分析软件，以及用于控制流程的用户界面。该系统还包括入射光的图形缩略图视图，允许用户轻松选择入射光波长的正确波段，从而产生最准确的结果。FE-VII是研究、开发和生产薄膜和表面研究的宝贵工具。它在几分钟内提供准确的结果,并且易于使用Windows界面。该设备不需要光学元件，也不需要繁琐的体力劳动，提供高精度和可重复的结果。