二手 RUDOLPH FE VII #9355413 待售

RUDOLPH FE VII是一种高精度、自动化的光学椭圆仪,专为测量厚度在0.1-1000 μ m之间的无机和有机材料而设计。利用多光束干涉和椭圆偏振的原理，该设备能够以亚微米的精度测量薄膜和其他微观结构。RUDOLPH FEVII配备了先进的相位调制器和可调偏振元件，使系统能够测量厚度和光学性质各异的材料。模块化设计使得定制FE-VII成为可能，从而可以用于分析多种样品，包括极化性、介电常数、双折射、应力和薄膜沉积材料。FEVII具有用于认证的集成光谱仪，允许确认材料的光学特性。该单元还包括一个显示实时测量和实验数据的高分辨率监视器。触摸屏用户界面允许快速轻松操作，非常适合实验和研究应用。RUDOLPH FE-VII具有广泛的特性和功能，适合各种应用。这些特点包括：用于调节偏振器和样品几何的超精密机械执行器；经确认的亚微米测量；数据采样速度高达15 kHz；以及一个内置的处理单元,最多可存储15,000个测量文件。此外，该机器还能够测量各种光学材料和化学物质，包括金属、电介质和陶瓷。FE VII提供了一种快速、可靠、准确的方法来测量材料的光学特性。该工具广泛用于新材料和产品的研发，以及现有材料和产品生产中的质量控制。因此，它通常用于半导体层厚度测量、器件测试和表征以及薄膜沉积等应用。为了方便起见，RUDOLPH FE VII与Robolift系列的自动化样品加载系统兼容。这些系统使资产能够远程操作，提供了一种成本效益高、可靠的替代手动样品加载的方法。再者，该模型也与Robomaker软件包兼容，可用于自动化高级测量和处理应用。