二手 RUDOLPH NIR 3 #9199611 待售
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RUDOLPH NIR 3是一种椭圆偏振仪，设计用来测量多层膜的厚度和光学常数。与以前的版本（RUDOLPH NIR 2）相比，它改进了功能，包括一个新的近红外（NIR）探测器，改进了测量范围，提高了精度。RUDOLPH NIR-3使用脉冲激光束，由具有预定波长的光波组成，定向到样品上。然后，光与样品表面相互作用，其中一些反射回探测器进行分析。仪器测量入射光偏振的变化和反射光束的角度，这是由于多层膜的厚度和光学常数不同而发生的。光学参数--表征材料的光学特性--可以通过测量的偏振和角度来确定。这使得薄膜的厚度和光学常数被确定到前所未有的精度水平。该仪器测量范围很广，可测量高达14层介电或金属样品的厚度和光学常数，精度很高，不确定性很低。其厚度可达2000 Ångström，可用于分析厚度从1nm到300 µm不等的薄膜。NIR 3的用户界面软件设计方便，包括自动批量测量、可定制报告模板和图形数据显示等高级功能。简而言之，NIR-3是一种先进的椭圆偏振仪，它以非常高的精度对样品的厚度和光学常数进行精确的测量。测量范围广，使用方便。这使得它成为在各种研究和工业应用中表征胶片的绝佳选择。
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