二手 RUDOLPH S3000A #9311178 待售

RUDOLPH S3000A Ellipsometer是一种非侵入性的光电仪器，用于测量薄膜的厚度、折射率、光学常数和其他材料特性。其主要功能是对样品的表层提供高度精确的描述。椭圆偏振仪的工作原理是测量沿偏振光束反射出样品表面层时光强度的变化。以不同角度测量反射强度,然后使用专用软件套件处理反射光数据,以确定表面层厚度、折射率、光学常数和其他材料属性。RUDOLPH S 3000 A利用532nm波长,并与不间断360°XYZ测量级集成。这使得最多24个继电器的映射能力能够确定许多不同样品类型的厚度、均匀性和折射率。高分辨率成像相机便于对准和表面氧化物层成像。简单的用户界面允许例行过程控制和质量监控。S3000A的折射率和层厚度精度分别为3nm和3mrad。这种极高的精确度使得S 3000 A成为许多应用的理想仪器，包括薄膜沉积验证、光学滤波器表征、半导体膜开发和许多其他不同的研究领域。除了标准的光骨功能外，RUDOLPH S3000A还具有优化和微调仪器对准和操作的其他选项。它还包括一套定制的软件解决方桉和应用程序,以支持所有操作和要求。综上所述，RUDOLPH S 3000 A椭圆仪代表了一种用于测量样品第二层的高度精确和通用的仪器。其集成的用户界面和量身定制的软件套件使得它成为任何研究环境的绝佳选择，在这些环境中，薄膜材料测量的准确性和可重复性是最重要的。