二手 RUDOLPH S3000S #9304275 待售

RUDOLPH S3000S Ellipsometer是一种光学仪器，用于测量薄膜材料和表面的光学特性。它利用近红外激光束，它指向样品表面，在那里它与材料以精确的方式相互作用。以两个不同的角度测量反射光束强度，并对所得数据进行分析，以确定光学性质。这类分析可用于评估材料的厚度和折射率。RUDOLPH S 3000 S模型设计用于研究用途，例如确定半导体器件和电子元件的性质。它具有高灵敏度干涉仪和高分辨率摄像机，以检测光强度的微妙变化。它还提供了一个自动化的样板舞台和一个大的，易于阅读的触摸屏显示。该系统能够控制与实验相关的各种参数，如样品温度、极化和速度。S3000S使用高级软件对数据进行参数化分析，使用四个庞加莱参数--吸收、延迟、椭圆度和方位角。这样可以精确测量样品材料和表面的厚度和折射率,薄膜厚度的精度水平高达0.5nm,折射率为0.001。此外，该系统还可用于检测应力诱导的双折射和层状结晶特性。S 3000 S与广泛的样品材料和表面兼容，包括金属、聚合物、电介质、半导体、薄膜和涂层。这使其成为电子和光学行业研发的理想仪器。它设计用于实验室以及其他专业环境，包括大学、研究中心和高通量的标线生产设施。总体而言，RUDOLPH S3000S Ellipsometer是一种用于薄膜材料和表面分析的强大仪器。它提供了无与伦比的准确性和可靠性，并且可以自主操作，以最大的生产力和便利。凭借其先进的软件和直观的控制面板，RUDOLPH S 3000 S是电子和光学领域研究和质量保证的理想工具。