二手 RUDOLPH S3000S #9389600 待售

RUDOLPH S3000S工业椭圆仪是一种精确测量半导体材料膜性能的仪器。RUDOLPH S 3000 S根据半导体行业要求苛刻的应用程序构建,具有高度集成的软件和硬件选项,以适应特定的客户需求。凭借其独一无二的软件套件Agilis Pro 3和Agilis Core 7, S3000S提供了一系列可用于广泛研发应用的数据收集和分析模块。S 3000 S在广泛的材料上提供精确、准确和可重复的测量。其专利双波束技术允许椭圆偏光仪测量同一样品或单个样品表面的多层，并提供高信噪比，以更好的分析。椭圆偏光计由于其直观的图形用户界面而易于使用。它允许用户快速设置样本参数、校准设置和测量范围。它还具有多种软件应用，如薄膜堆栈结构的实时显示、椭圆偏差曲线的绘图、逐层分析、曲线比较等。RUDOLPH S3000S椭圆偏光计提供了室温操作选项,以及在-10°C到+90°C的大范围温度下测量的能力,从而实现了更快的薄膜表征。在RUDOLPH S 3000S上可以选择薄膜表征参数，包括极化参数，如伽马和三角洲，光学常数（折射率和消光系数），以及层厚度和多组分浓度。S3000S椭圆偏光计非常有效，循环时间可达7秒。S 3000 S的高速实现了更快的测试和定制的薄膜堆栈建模。RUDOLPH S3000S安装了半导体级光学系统，设计用于多层薄膜和多点分析。总体而言，RUDOLPH S 3000 S工业椭圆仪是半导体行业研发实验室的理想工具，提供精确度、速度、价值的完美融合。它提供了广泛的应用，而且高度集成的软件一定会给任何用户一个可靠和可重复的测量。