二手 RUDOLPH S3000S #9401466 待售

RUDOLPH S3000S
製造商
RUDOLPH
模型
S3000S
ID: 9401466
晶圆大小: 12"
Film thickness measurement system, 12".
RUDOLPH S3000S Ellipsometer是一种高精度、高分辨率的光学椭圆someter,用于临界薄膜表征测量。这种先进的分析工具测量当光束从样品侧穿过薄膜时薄膜的光学特性的变化。椭圆偏振仪测量偏振变化的角度,然后用来生成有关薄膜厚度、折射率和光学各向异性的信息。RUDOLPH S 3000 S Ellipsometer设计有可旋转的采样级和四通道波长选择,结合起来提供了一个强大的工具来测量要求很高的采样。可旋转采样级允许进行不同角度的测量。可以从UV、VIS、NIR(近红外)和MIR(中红外)范围中选择波长,然后在差分分析仪中同时读取S3000S波长。双视口还允许同时测量透射和反射,或透射率和基于偏振的测量。S 3000 S与许多不同的控制器和隔离系统高度兼容,允许其在多种环境中使用。它的电动光学系统允许在水平平面和垂直平面上容易对准,以便优化样品检查。该仪器还可维修和方便用户,便于维护和操作。RUDOLPH S3000S Ellipsometer使得处理最薄的薄膜和最具挑战性的基板成为可能,提供比其他椭圆someter更大的表征能力。它的快速数据采集使研究人员能够分析速度从5分钟到几小时不等的复杂样本,这取决于正在评估的参数数量。RUDOLPH S 3000 S椭圆仪是研究、工业和学术应用不可或缺的工具,为复杂的光学基板和样品提供高度准确可靠的结果。
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