二手 RUDOLPH WaferView 220 #9130026 待售
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RUDOLPH WaferView 220椭圆偏振仪是一种高度精确的仪器，用于确定薄膜和其他光学活性材料的厚度、组成和光学特性。它旨在以始终如一的高分辨率测量小于1%的光学常数变化。WaferView 220具有模块化设计,可轻松集成到其他实验室设备中,以及内置软件包,可简化分析并提供详细可靠的数据。RUDOLPH WaferView 220使用专利的WaferView图像采集设备（VIAS）在亚微观水平上捕获样品表面的图像。然后对这些高度详细的图像进行数字分析,以提供有关样品的大小、形状、折射率、层厚度、组成和结构的信息。这个过程可以进行极其精确的测量，厚度下降到一个质子层。WaferView 220设有电脑控制的舞台，可以让使用者在分析时旋转并将样品定位到任何所需的角度。它还具有先进的垂直光谱成像系统（VSI），该系统捕获从紫外线到近红外的各种波长范围内对样品的精确测量。此单元的设计目的是提供精确和一致的数据,即使在测量非常薄的薄膜时也是如此。RUDOLPH WaferView 220可用于一系列实验和应用，包括测量薄膜质量和厚度；确定介电常数和光学常数；表征半导体表面；并测量涂层、薄膜和层状介质的光学性能。它也适用于半导体、光学、薄膜研究，或任何其他有能力测量光学性质微小变化的应用。WaferView 220是一款直观而强大的机器，提供了一系列功能和能力，让研究人员和科学家能够快速准确地测量薄膜和其他光学活性材料的光学特性。它提供精确、可靠的数据分析,是任何实验室、研究中心或生产设施的重要组成部分。
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