二手 SEMILAB IR 3100s #9298698 待售

SEMILAB IR 3100 s是SEMILAB的一种最先进的椭圆偏振仪,能够快速准确地测量薄膜样品。椭圆偏振法是一种光散射技术，用于确定从纳米到数百纳米的透明均匀薄膜的厚度和折射率。IR 3100 s Ellipsometer使用专利干涉反射技术研究薄膜性能。该仪器以光学干涉原理为基础，利用绿色激光源的双光束以接近所研究材料的布鲁斯特角的记录角度工作。利用偏振敏感检测器对两束光束产生的干涉图样进行检测，然后对其进行分析，得出薄膜厚度和光学性质的信息。该系统配备了三种照明和三种检测模式，允许用户分析范围广泛的样品，从没有可见对比度的薄膜到分层半导体材料等复杂材料的单层。方便用户的软件允许自动分析，便于测量一个或多个样本。此外,实时显示每个样品的椭圆偏差曲线可确保对每个测量进行实时分析。SEMILAB IR 3100 s椭圆偏振仪可重复性为0.8%，精度为0.7%。它是质量评估和故障分析应用的宝贵工具，允许无损测量透明薄膜的光学特性。它经常用于多种行业，包括半导体、光学、光学涂层、太阳能和平板显示器。IR 3100 S Ellipsometer配备了包括自动背景减法、改进的USP功能、内置校准功能以及高速成像CCD相机等多种功能。该软件提供了一系列用于分析各种样本属性的功能，并允许用户将真实样本与模拟结果进行比较。由于仪器的灵活性和模块化设计,它易于定制以满足任何研究或工业应用需求。