二手 SENTECH 400ADV #9036894 待售

SENTECH 400ADV是一种先进的光谱椭圆仪，旨在以非凡的细节和精度测量表面的光学特性。四波长系统配有一对双波长探测器，可同时测量紫外线、VIS和NIR光谱上的p极化和s极化。该仪器利用旋转分析仪测量光反射出样品表面时的偏振变化。该结果用于计算样品材料的折射率和消光系数，得到有关表面组成、分子结构和层厚度的有用信息。该仪器还包括计算机控制的超高精度电动机级，允许对大样品区域进行快速、精确的检查。无论尺寸、形状或材料如何,它都能以高达每秒20分的速度以高分辨率测量样品表面的3 cm2。这意味着即使是最复杂的曲面也可以及时准确地映射。它还具有直观、用户友好的软件,可帮助用户设置实验、存储数据、分析结果和生成报告。此软件与用户的计算机配合使用,可直接从光谱椭圆仪收集所有必要的参数,从而确保精确的测量不会出现人为错误。除了极高的精度和超凡的速度外,400ADV还具有很高的稳定性和鲁棒性.它可以承受恶劣的环境条件,并且可以在不影响其性能的情况下将温度波动保持在3°C ±。它的模块化结构使用户能够在必要时轻松使用/更换组件。总体而言，SENTECH 400ADV是寻求精确可靠测量样品表面特性的人的理想选择。这种椭圆偏光计具有多种不同的特点，能够在从半导体研究到生物医学分析等多种应用中快速准确地获得材料光学特性的数据。