二手 SENTECH SE 400 #190266 待售

SENTECH SE 400是由SENTECH Instruments GmbH开发的椭圆偏振仪，专为需要精确椭圆偏振信息且操作可靠的用户而设计。SENTECH SE400利用现代技术测量多种材料的折射率、吸收和薄膜厚度，包括薄膜涂层、半导体、聚合物、晶片和液晶。SE 400椭圆仪是一种模块化系统，可以同时测量多个样本，适应性强。它配备了双波束偏振扫描仪，能够实现高信噪比，并允许测量在大的入射角。除了显示和存储测量值外,它还配备了可提供用户友好界面以优化参数的软件。SE400的测量波长范围为375-1050 nm,提供了广泛的测量条件。布鲁斯特角和法线入射构型均可用于获得可靠准确的参数。可调电动样品支架提供测量的均匀性和可重复性。SENTECH SE 400提供具有Z扫描功能的精确测量。此特征可测量精确的薄膜厚度,精度在0.1nm以内。OLED彩色触摸屏可确保与设备的直观可靠界面以及尺寸的显示。SENTECH SE400还有一个内置数据库,用于存储测量值以供将来参考。SE 400是研发和工业应用的绝佳选择。即使在低反射率和/或低轮廓层的表面上,它也能提供准确可靠的测量。直观的用户界面和简单的操作使其非常适合在生产线或实验室中进行快速测量。SE400也是RoHS Compliant和ISO 9001 Certified,为用户提供最高的质量控制标准。