二手 SENTECH SE 400 #9027536 待售

SENTECH SE 400椭圆仪是一种精确可靠的表面表征光学器件.它是一个完整的椭圆偏振和反射测量系统，用于确定不透明基板上薄膜和涂层的光学特性。SENTECH SE400可以测量高达1000埃的表面层厚度，并且可以用于测量薄膜和完整的多层堆栈。SE 400利用独特的双光束前反射偏振技术来分析传统单光束技术无法实现的复杂光学响应。这种先进的技术可以进行更可靠的测量，特别是在处理高折射率薄膜和具有挑战性的涂层轮廓时。SE400的用户友好图形界面简化了数据采集过程，并允许对结果进行快速分析。SENTECH SE 400由椭圆偏振仪头、光源、样品持有者、信号处理器和计算机监视器组成。该光源采用150瓦灯和具有可调功率输出的HeNe（氦硼）激光器，灵敏度非常高。样品支架是机动化的，灵活的，可以方便地改变入射角。信号处理器是一种先进的数字傅立叶分析系统，对信号进行快速准确的评估。SENTECH SE400适用于广泛的应用，包括薄膜表征和开发、光学薄膜监控、材料开发和工艺控制。该仪器也非常适合表征表面粗糙度、金属化层和广泛的光学涂层。此外,SE 400非常适合用于自动化生产系统,从而实现快速可靠的质量控制和优化。综上所述，SE400椭圆仪是一种用于精确测量和分析薄膜和基板的强大而可靠的解决方桉。SENTECH SE 400凭借其先进的双光束技术、灵活的样品支架以及与自动化生产系统的兼容性,为测量光学性能提供了经济高效的综合解决方桉。