二手 SENTECH SE 400 #9208990 待售

SENTECH SE 400椭圆偏振仪是一种光学薄膜表征工具，用于测量薄膜和表面的光学特性。该仪器设计用于测量偏振单色光偏振偏移角和椭圆度，从样品表面反射。这种位移和椭圆度取决于样品的光学特性，如厚度、折射率和薄膜的相对介电特性。SENTECH SE400 Ellipsometer是一种占地面积较小的桌面设备。它结合了光学、力学、电子和软件，对薄膜，如抗反射和透明介电涂层，进行了广泛而准确的分析。该仪器采用高速旋转补偿器和双角椭圆偏振头，为表征最复杂的样品提供了必要的灵活性。SE 400椭圆仪使用先进的光学和样品定位系统提供非常精确的光学数据,可自动、准确、可重复和可靠的测量结果。该仪器可以测量样品的绝对和相对特性，并可用于广泛的应用，如确定膜厚度、折射率、消光系数、光学常数和各向异性。该仪器易于设置、操作和维护。它在彩色液晶上有一个简单的图形用户界面，显示操作员可选择的参数和输出，如薄膜厚度、折射率和光学常数。输出可以很容易地显示和打印。SE400椭圆仪是一种可靠、耐用和精确的仪器，具有全面的光学参数范围，可以精确、快速地测量。这使得它成为薄膜表征应用的理想选择。