二手 SENTECH SE 400ADV #9202977 待售

SENTECH SE 400ADV是一种先进的椭圆偏光计，旨在测量薄膜材料的性能。该设备专为光学涂层、半导体材料和纳米级层等多种应用而设计。它可以精确测量大范围的光学厚度、折射率、薄膜应力和层材料。SENTECH SE400ADV提供高精度、重复性和测量速度,光学厚度范围从0.1 nm以下扩展到几微米。该系统具有一个无点击旋转，允许连续的角度测量和角度设置降低到0.3弧秒增量。偏振显微镜针对高分辨率图像进行了优化，可快速表征薄膜。SE 400ADV单元带有强大的Windows软件包。GUI允许轻松处理参数和数据分析。用户友好的界面可实现快速高效的设置和高级数据分析。它还允许存档和恢复数据,这些数据可用于比较不同时间段的胶片参数。SE400ADV配备了一个自动对齐机器，确保可靠和准确的测量。自动化工具消除了手动调整的需要,并确保了多种测量之间的一致性性能。此外，资产可以测量表面不规则的样品，如结构化薄膜。SENTECH SE 400ADV具有内置象限探测器,可同时分析多个样本。数据的实时收集可以实现高吞吐量，结果的图形显示可以快速方便地比较样本参数分布。此外，仪器还可配备多个光束平台，包括左右圆偏振器、红外光纤，以及可见光和近红外范围内的激光。SENTECH SE400ADV提供了一个先进、高精度、高性能的薄膜表征平台。该仪器具有用户友好的界面和自动对齐功能，是研究和质量保证应用的可靠工具。利用该模型，研究人员可以快速准确地深入了解薄膜特性，确保测量的准确性和可重复性。