二手 SENTECH SE 400ADV #9286513 待售

SENTECH SE 400ADV Ellipsometer是一种用途广泛、精密的光学测量设备,用于分析从可见区域到近红外（NIR）的薄膜表面。该系统设计用于检测极薄涂层和透明材料,并应用于半导体器件开发和其他光电、光学和光学涂层测量。SENTECH SE400ADV测量反射光的偏振状态，以准确确定表面膜的光学特性。该单元提供自动和手动对准具有高精度和可重复性。它还具有较大的数据采集内存和高速数据采集速率,允许扩展测量和高吞吐量数据采集。SE 400ADV Ellipsometer能够提供有关基板上薄膜层的定量和定性信息。此外,该机器还提供了广泛的分析功能,包括组成、沉积速率、地形、一致性和厚度。使用亥姆霍兹线圈可以减少背景噪声，提供更高精度的结果。SE400ADV有一个全自动的软件界面，允许方便和快速的设置和数据收集。用户可以定义测量参数和数据收集参数。直观的图形界面允许快速的实验设计和数据处理。此外,软件会自动对收集到的数据进行计算,从而实现快速、轻松的分析。SENTECH SE 400ADV还提供了高级分析工具,使用户可以超越定量结果。该资产允许对测量的薄膜层进行详细的可视化，包括轨道图和能量重整图。此外，分析模型还可以产生先进的表面特性，包括组成、界面粗糙度、光学常数等等。SENTECH SE400ADV Ellipsometer是一种易于使用、用途广泛、精确的光学测量设备,旨在分析薄膜表面。由于其高速的数据采集速率和广泛的分析能力，它非常适合半导体器件的开发和其他光电、光学和光学涂层的测量。借助其自动化的软件界面和高级分析系统,SE 400ADV使用户能够快速准确地收集成功分析所需的所有材料属性。