二手 SENTECH SE 400ADV #9316098 待售
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ID: 9316098
Ellipsometer
Extending the limits of the laser ellipsometer:
Multi-angle manual goniometer
Angle accuracy allow measuring the refractive index
Extinction coefficient
Film thickness of single-layer
Laminated films
High-speed measurement:
Monitor the growth
Endpoint detection of single-layer films
Automatic scanning of sample uniformity
Ultra-thin single-layer films
Small desktop composed of ellipsometer optics
Goniometer
Sample stage
Automatic collimating lens
Helium-neon laser light source
Detection unit
Accuracy: 0.1Å
Manual goniometer
Sample stage
Automatic collimating lens
Helium Neon laser light source
Detector
Options:
Microelectronics
Photovoltaic
Data storage
Life sciences
Metal processor.
SENTECH SE 400ADV是一种椭圆偏振仪,它能够无损、精确、精确地测量各种基板上的薄膜光学特性。该椭圆偏光仪是一种多功能仪器，它提供了一系列强大的特性，可以在极短的时间内测量金属基板上电介质膜的反射和透射层厚度。SENTECH SE400ADV设计有圆形偏振光源和形成非成像、同轴和定向照明系统的物镜。这允许进行无损分析，使测量的样品保持完整。SE 400ADV的光斑尺寸是可调的,样品光束尺寸为2毫米.物镜收集反射光和折射光，将光束聚焦到精密分光光度计上。SE400ADV分析包含三种不同的测量配置,每种配置都有自己的功能。可以通过收集参数化数据来确定样品的光学常数，如折射率和吸收率。椭圆偏光计也可用于确定具有双波长配置的薄膜层的厚度。这三种配置记录在一次自动扫描中，可以通过SENTECH软件对结果进行量化。SENTECH SE 400ADV设置还带有内置粗糙度指示器。这允许分析基板的表面粗糙度。仪器还配备了先进的自动波长选择。这一特性通过对某种基板使用正确的波长，可以更快速地进行分析。仪器本身具有极低的轨道漂移，这是使用低噪声光源和有源热电冷却的结果。内置的电脑界面配有7英寸显示屏，设计方便导航。此外,该界面还允许快速轻松地进行软件升级和更新。该仪器还附带了一些预定义的应用程序，允许快速和准确的数据收集和分析。SENTECH SE400ADV是一种精确而有力的薄膜表征工具。它具有众多的特性，能够更快、更容易地测量薄膜光学特性。该仪器包括预定义的应用程序和内置的计算机界面，使其成为需要及时精确测量薄膜光学性能的专业人士的绝佳选择。
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