二手 SENTECH SE 400ADV #9359635 待售

製造商
SENTECH
模型
SE 400ADV
ID: 9359635
Ellipsometer.
SENTECH SE 400ADV是一种先进的高精度扫描椭圆仪,旨在测量薄膜的厚度和光学常数。它提供了卓越的准确性和可重复性,允许用户跟踪表面质量和过程随时间的变化。该仪器有一个2轴旋转安装平台,可以扫描各种样品,而其大的活动区域提供直径可达20mm的测量。SENTECH SE400ADV利用单色控制光源,配有高性能光谱仪。这种组合被用来测量光从标本反射时发生的光偏振的变化。利用各种测量值和测量,仪器可以确定样品的厚度、组成和存在于样品上的层。该系统还包括集成的特定于样本的软件,该软件提供易于使用的图形用户界面,以确保高效的数据收集和分析。SE 400ADV提供了广泛的适用材料,如半导体、薄膜层、聚合物和许多其他材料。它与透明和不透明的样品材料兼容,允许用户分析各种薄膜结构和层厚度。其精确的光路长度对准使得能够精确分析具有出色临界尺寸和厚度测量的小型样品。该系统还采用数据驱动FilmSmart™技术,为每个样品提供自动优化测量硬件,以确保最大精度。此外,它还可以快速轻松地设置多个样品,非常适合在生产设施中使用。总体而言,SE400ADV是一种可靠、精确的扫描椭圆仪,它提供了一系列特征和准确性,可精确、详细地测量薄膜层、材料和光学常数。
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