二手 SENTECH SE 400ADV #9410238 待售

SENTECH SE 400ADV Ellipsometer是一种高度先进的设备,用于精确测量各种材料上的光学薄膜性能。该系统用途广泛,用户友好,是有经验和新手用户的理想选择。SENTECH SE400ADV可同时测量0.1至90度范围内的法线角和斜角,扩展波长范围在250至1200 nm之间。它还利用专门的高精度双通道探测器和先进的软件算法，以确保可靠的数据采集和准确的结果。除了法线和斜角测量外,SE 400ADV还包括一些其他功能,允许用户进行更详细的测量。这些包括延迟、任意角度的角度分辨率测量和光谱反应。该单元还测量了0.02至5微米的光学膜厚度。SE400ADV椭圆仪为光学薄膜的研发提供了广泛的特点，包括设计和优化薄膜结构、分析沉积过程和评估现有薄膜结构性能的能力。机器的界面提供了用户友好的图形用户界面（GUI）和直观的命令菜单。它还包括一个标准测量模式库，可用于在没有额外用户输入的情况下使测量快速和容易。此外，该工具能够在其内部内存中存储各种数据集，使用户可以轻松分析和比较多种测量结果。SENTECH SE 400ADV支持多种输出格式,用于进一步分析或与其他用户共享数据。SENTECH SE400ADV利用先进的硬件和软件解决方桉为各种应用程序提供准确可靠的结果。其用户友好的功能和强大的功能使它成为寻找功能齐全的椭圆偏光计并获得可靠和准确结果的用户的绝佳选择。