二手 SENTECH Senduro #293651563 待售

SENTECH Senduro
製造商
SENTECH
模型
Senduro
ID: 293651563
Ellipsometer.
SENTECH Senduro是一种先进的椭圆仪,用于测量各种样品的薄膜厚度、光学常数和表面粗糙度。椭圆偏光计可以测量具有广泛光学性质的样品,如折射率(n)、消光系数(k)、薄膜厚度(t)、表面粗糙度(r)等光学特性。Senduro利用了一种激光源,它是根据特定的波长和角度组合量身定制的。角度可从6度调整到78度,从而可以评估各种示例配置。此外,集成的旋转级允许精确的角度对准和大角度范围的样品测量。SENTECH Senduro利用一个精密的光学感应系统来分析从样品反射的光的取向。该装置可根据薄膜变化检测光的偏振变化。这允许测量各种参数,如薄膜厚度、折射率、消光系数和表面粗糙度。Senduro设计为低维护,不需要额外的滤波器或检测器元件。它非常精确,薄膜厚度的分辨率低至0.005,折射率和消光系数的分辨率低至+-0.001。该设备利用直观的软件,使用户能够快速轻松地分析其数据。它最多可以存储2000个测量值,并且具有较高的数据传输率,使用户能够快速分析和保存大型数据集。SENTECH Senduro是一款功能强大、精确且易于使用的椭圆仪,旨在帮助用户快速测量薄膜特性和光学特性。精确的角度对准以及广泛的波长和角度组合,可以进行精确的样本评估和高度精确的结果。
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