二手 SOPRA GXR #9172335 待售

製造商
SOPRA
模型
GXR
ID: 9172335
Spectroscopic ellipsometer Grazing X-ray reflectometry Multi-layer stack Type of material: Semiconductor Metallic Dielectric Organic.
SOPRA GXR是一种紧凑通用的单样椭圆仪,设计用于研发实验室的精确薄膜分析。它测量样品表面层的反射率参数,有助于确定折射率、层厚和光学常数。GXR由宽带光源、可变偏振器和旋转分析仪组成,全部安装在可调臂上。来自光源的光束被偏振并反射出样品。改变偏振器,然后由旋转分析仪检测和测量得到的椭圆偏振光,测量样品反射后光的相移和振幅。然后可以分析结果以确定样品属性。SOPRA GXR具有可容纳直径不超过5mm样品的样品持有者,使其非常适合检查薄膜光学元件和半导体晶片等扁平基板。它还能够测量最高75°的入射角和最高30°的极化,允许使用者补偿任何底物诱导的去极化。GXR配备了压电驱动的高程级,能够进行焦点校正,以及用于层厚研究的样品开槽。SOPRA GXR使用激光波长和偏振器设置,使其与多种材料兼容,包括电介质、聚合物和纳米材料。此外,它的高级功能使用户能够执行高级测量,例如分析多种地形结构和多角度测量。通用软件包括多种数据处理模式,仪器可集成到自动化生产线中。总体而言,GXR由于其易用性、精确度和多功能性,是表征薄膜性能的绝佳选择。紧凑的设计非常适合空间有限的实验室,其高级功能为高级应用程序测量提供了灵活性。
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