二手 SOPRA IRSE-200-SE #9124701 待售

SOPRA IRSE-200-SE椭圆仪是一种强大的光学计量工具，用于测量薄膜特性，如厚度和成分。它通过确定光穿过或反射出样品表面时的偏振特性而起作用。IRSE-200-SE使用椭圆偏振法测量薄膜性能。椭圆偏振法是一种光学技术，对被测样品的折射率、厚度和表面粗糙度的变化高度敏感。它使用两个组件：光源和偏振仪。光源照亮样品，偏振仪测量反射光偏振的变化。SOPRA IRSE-200-SE使用785 nm激光二极管作为光源，使用双同差椭圆偏振仪作为偏振仪。激光二极管提供光谱带宽相对较窄的光，为测量提供了改进的信噪比。双同差椭圆偏振仪利用两个偏振器测量反射光的偏振。这允许比单一偏振器系统更精确的测量。IRSE-200-SE能够测量从几纳米到几百纳米的各种薄膜厚度。由于激光二极管是完美准直的，在非平坦的表面上，如金属和硬质塑料，可以高精度地进行测量。还可以在高于可见光的波长下进行测量，从而可以分析电介质堆栈和有机材料。SOPRA IRSE-200-SE允许实时测量和分析以及实验后数据分析。它有一个可定制的用户界面，可以根据广泛的测量量身定制，使其适合各种样本类型。系统可以通过USB、以太网或Wi-Fi控制，允许从任何位置进行远程控制。总体而言,IRSE-200-SE椭圆仪是薄膜测量和分析的理想工具.其精确度和广泛的应用使得它成为任何实验室或生产设施的宝贵工具。SOPRA IRSE-200-SE易于使用、可定制的用户界面和远程控制功能,旨在帮助研究人员和科学家充分利用其测量结果。