二手 TECHNICAL INSTRUMENT COMPANY KMS 300 with K2IND/Nikon #9126174 待售

TECHNICAL INSTRUMENT COMPANY KMS 300 with K2IND/Nikon
ID: 9126174
Wafer inspection system.
TECHNICAL INSTRUMENT公司KMS 300 with K2IND/Nikon是一种椭圆偏光计,用于表面和薄膜的分析。它测量光在界面上的反射和折射,以确定被研究材料的折射角、厚度和光学常数。KMS 300是一种集成的自动化仪器,提供全套分析功能和功能,包括使用K2IND软件测量原位胶片。KMS 300利用尼康的专有K2IND技术,将显微镜的精密光学技术与精密的数据采集设备相结合,为用户提供高度准确和详细的分析。KMS 300设计用于研发和生产。KMS 300具有自动对焦镜头和自动校准系统,使用户能够快速高效地进行实验。该单元包括一个可以扫描各种样本量和材料的扫描头。扫描头还允许同时收集从紫外线到红外的多个波段。该机还提供手动样品平整校正和自动薄膜厚度图,以提高精度。KMS 300利用样品照明源与成像工具结合,从样品表面捕获反射光。然后使用高速数字信号处理器(DSP)处理捕获的光,以确定折射角和样品材料的光学特性。该资产利用高度敏感的探测器来收集各种样品厚度的数据,并且可以测量厚度不超过50 nm的透射薄膜和反射薄膜。KMS 300能够在各种环境温度和湿度设置下进行测量,最高温度为85°C,相对湿度为95%,非常适合研发应用。该模型还设计为用户友好,包括彩色图形用户界面和自我指导教程,为用户提供最少的指导,以增强用户体验。KMS 300是一种先进的研究级仪器,非常适合需要对薄膜进行高度精确和可靠分析的研究人员和工程师。它坚固、准确,能够提供可靠的结果,而无需进行广泛的校准和维护,因此是薄膜分析的理想选择。
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