二手 TECHNICAL INSTRUMENT COMPANY KMS 300 #9126173 待售

TECHNICAL INSTRUMENT COMPANY KMS 300
ID: 9126173
Wafer inspection system computer / controllers.
TECHNICAL INSTRUMENT公司KMS 300是一种椭圆偏振仪,用于测量薄膜的厚度、折射率、吸收率、消光系数和光学常数。它通过用偏振光照射样品和测量光的偏振角变化来运作。然后使用这些角度变化来计算薄膜性质。KMS 300结合了双光头、旋转分析仪、旋转偏振器和高灵敏度检测器,以达到最大精度。TECHNICAL INSTRUMENT公司KMS 300是一种多功能设备,设计用于测量各种样品类型,包括玻璃、石英、蓝宝石、聚合物、单晶等。它测量透明、半透明和反射层的薄膜厚度,以及半透明层厚度大于4nm的光学常数。KMS 300适合于一系列的应用,例如测量抗反射的厚度和光学、显示和太阳能工业的反射镜。该仪器设计为用户友好,具有直观的用户界面。软件控制设备提供数据传输、图形显示、库功能、趋势和分析。它还允许用户输入任何测得的以纳米为单位的波长,并进行一系列测试以确定样品性质和计算薄膜参数。TECHNICAL INSTRUMENT公司KMS 300提供了许多用于测量薄膜光学特性的功能和功能。该系统配有采样头和样品支架,便于放置样品。该装置还配有汞弧光源,产生精确测量所需的近单色光。该机还具有控制测量过程以及存储和分析数据的软件。此外,该工具是建立在一个固体铝基防止振动和保持整个测试区域的静态温度。KMS 300是一种高度精确的仪器,旨在测量薄膜的光学常数、厚度、反射率和吸收率。其双光头设计、旋转分析仪、旋转偏振器提供了最高的测量精度。软件控制资产和汞弧光源确保准确的测量和数据分析。这种先进、坚固的仪器非常适合光学、显示和太阳能行业,适合在实验室环境中不断使用。
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