二手 TECHNICAL INSTRUMENT COMPANY KMS 300 #9135186 待售

ID: 9135186
Wafer inspection system computer / controller.
TECHNICAL INSTRUMENT公司KMS 300是一款高性能的光学椭圆偏光计,功能广泛,应用范围广泛。椭圆偏光计用于测量薄膜厚度、折射率变化和介电常数等的光学性质。KMS 300是一种小巧且易于使用的椭圆偏光计,可在几分钟内提供精确的测量。TECHNICAL INSTRUMENT公司KMS 300配备了两个激光器,一个632.8 nm和一个532 nm波长,提供了10-3到10-6 RIU的可靠测量范围。该装置的灵敏度和精确度通过一个整体横向扫描系统得到进一步提高,该系统允许在一个扩展的角度范围内同时获取光谱。另外,KMS 300具有高浓度的激光功率,对具有临界表面完整性的样品提供可靠的测量。TECHNICAL INSTRUMENT公司KMS 300还具有广泛的用户友好功能。设备上高效的显示提供直观的菜单布局和导航,从而实现快速设置和数据采集。此外,KMS 300带有一个直观的软件界面,允许用户以各种适当的格式捕获和比较光谱或输出累积的数据。更重要的是,TECHNICAL INSTRUMENT公司KMS 300提供了广泛的测量选项,使其适合众多的研究和工业应用。该装置可用于测量各种基板上的薄膜,具有用于优化精度的内置温度控制系统,可对10 μ米以下的区域进行测量。此外,该设备与各种自动化的示例处理系统兼容,从而实现了简化的工作流程。总而言之,KMS 300提供了具有广泛应用的准确、快速的测量。它易于使用的界面和自动化功能使其成为研究和工业应用的理想选择。因此,技术仪器公司KMS 300是一个可靠和通用的设备,适合各种应用。
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