二手 TECHNICAL INSTRUMENT COMPANY KMS 310R #9125976 待售

TECHNICAL INSTRUMENT公司KMS 310R Ellipsometer是一种高精度的仪器，设计用来测量非常薄的薄膜和层，薄到纳米厚。广泛应用于材料科学与工程，用于半导体器件、光伏、液晶显示器（LCD）、有机电子等薄膜技术的研究与过程控制。KMS 310R Ellipsometer是基于一种基本的椭圆偏振原理，该原理将光的偏振分辨反射与薄表面层或薄膜连接起来。对于TECHNICAL INSTRUMENT公司KMS 310R Ellipsometer,选定波长的入射光是p偏振的,反射光是用几种偏振分析的。偏振入射光的偏振分辨测量可用于确定折射率（RI）和薄层或薄膜的厚度。KMS 310R Ellipsometer包括一个闭环电动系统，它允许一个固定的入射角和一个电动偏振器和检测器系统，它可以测量一个范围的入射，反射和偏振。该系统具有高灵敏度、5 nm分辨率和高光通量,可以精确测量非常薄的层。TECHNICAL INSTRUMENT公司KMS 310R Ellipsometer配备了多种光学工具，如激光束模式，使样品能够在不同介质如水中精确测量。KMS 310R Ellipsometer包括软件编辑和统计评估功能,可实现复杂而准确的测量。该软件具有高性能计算模式,能够在一次采集运行中快速测量许多样本。TECHNICAL INSTRUMENT公司KMS 310R Ellipsometer还具有几种先进的校准特性，以提高数据和结果的准确性。KMS 310R Ellipsometer是一种易于使用的仪器，为用户提供易于学习和直观的图形用户界面。它具有一系列有用的功能，如自动操作、软件校准和用户友好菜单选项。仪器使用先进的数学模型来解释波板模拟数据，以提供快速准确的结果。TECHNICAL INSTRUMENT公司KMS 310R Ellipsometer是一种可靠而有力的仪器,在测量非常薄的层和薄膜时具有很高的灵敏度和准确性。它是任何需要精确测量超薄层和表面的应用的绝佳选择,例如在光伏和半导体工业中。