二手 WOOLLAM M-2000 #293771194 待售
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ID: 293771194
Ellipsometer
Spectroscopic ellipsometer
With ESM-300 Auto angle base
DET-450 Detector
Lamp hours: 4125.3
EC-400 Electronic control
LINICON LV-125A Vacuum pump
(5) AC Power cables
(2) L7417 Light bulb precision pliers
Pair glove
Bag zip tie
(3) Hex keys
Xcelite R3322 Screwdriver
M-2000 Hardware manual
(2) EASE Software manuals
DELL OptiPlex 7050 PC
Table
Monitor
Keyboard
Mouse
Calibration wafer:
Si02 On Si: 2 nm
Si02 On Si: 10 nm
Si02 On Si: 25 nm
Si02 On Si: 1000 nm.
WOOLLAM M-2000是一种最先进的椭圆偏光计,广泛用于薄膜分析和表征的研究和工业应用。这种先进的仪器对薄膜的光学特性,如厚度、折射率、消光系数,提供精确准确的测量。WOOLLAM M2000椭圆仪基于椭圆偏振原理,即测量样品反射的偏振光的变化以提取其薄膜特性的信息。该仪器在紫外线(UV)到近红外(NIR)波长的光谱范围内运行,允许在材料科学、半导体和纳米技术领域的广泛应用。M 2000具有高性能的光谱椭圆偏光计,可以配置多个光源,例如钨卤素灯、氘灯和激光器,以覆盖广泛的光谱范围。光源的这种灵活性使用户能够根据特定的材料特性和样品要求量身定制测量。M2000椭圆偏振仪的一个关键优点是它在测量光学性能方面的高精度和精确度。该仪器配备了先进的算法和数据分析软件,能够处理测量的椭圆偏差数据,以高可靠性提取必需的薄膜参数。这种能力使得M-2000非常适合表征复杂的多层结构、薄膜和具有纳米级分辨率的涂层。WOOLLAM M 2000椭圆偏光计的设计是为了便于使用和多功能性,使研究人员和工程师能够在最短的设置时间内进行广泛的测量。该仪器可配备各种配件,如自动化样品级、环境室和现场监测工具,以适应不同的样品类型和实验条件。WOOLLAM M-2000除了提供高性能的光学测量外,还提供先进的数据可视化和分析工具来有效地解释和呈现测量结果。仪器的软件界面提供了对测量参数、数据采集和分析例程的直观控制,使用户能够快速获得对薄膜光学特性的宝贵见解。WOOLLAM M2000椭圆仪也以坚固的构造和可靠性着称,使其既适合实验室研究,又适合工业生产环境。该仪器采用模块化设计,便于维护和升级,确保了长期性能和与不断变化的实验需求的兼容性。总体而言,M 2000椭圆仪是用于薄膜分析的通用且功能强大的工具,可提供高精度测量、高级数据分析功能和用户友好的操作。无论是在学术研究、材料表征还是工业质量控制方面,M2000都以卓越的精度和效率提供了对薄膜光学特性的宝贵见解。
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